德国fischer公司生产DUALSCOPE?MP0R涂层测厚仪是一款为快速且简便测量而设计的测厚仪。mpor涂层测厚仪这一款经济型的测厚仪可以准确地和方便地在2个液晶显示器上显示镀层、涂层厚度的读数：一块大的位于前部面板，另一块位于上部面板。德国菲希尔MP0R涂层测厚仪独特的符合人类工程学设计的集成于仪器的恒压测量探头允许方便地单手操作，mpor涂层测厚仪可以进行测量数据统计评估以及在10-20 m（33-66 feet）的距离范围内将测量数据在线或离线的无线传输至计算机的内置无线电发器。
DUALSCOPE?MP0R涂层测厚仪采用根据DIN EN ISO 2360，ASTM B244标准的电涡流方法和DIN EN ISO 2178，ASTM B499电磁感应方法，被用来测量非导电涂层在非铁金属基材上的厚度以及非铁金属镀层和非导电涂层在铁或钢上的厚度。mpor涂层测厚仪能自动地识别被测材料并选择适合的测试方法。
DUALSCOPE?MP0R涂层测厚仪理想的适合于测量：
非铁金属镀层、涂层（例如：铬，铜，锌等）在铁或钢上。
油漆、腊克和合成涂层在铁或钢上。
非导电涂层在非铁金属基材上，例如：油漆、腊克和合成涂层在铝、铜、黄铜、锌和不锈钢上。
铝的阳极氧化层。
膜厚仪与涂层测厚仪的差别
膜厚仪一般来说和涂层测厚仪是一类产品。
膜厚仪一般是测氧化膜层厚度，常见的铝基，铜基氧化，测量时候用涂层测厚仪选择N（非磁性）探头，这样测铝基等氧化层也称为膜厚仪。
涂层测厚仪正常情况下有两种测量原理，配F合N探头，或者FN一体探头。氧化层一般是几微米到十几微米，但是普通的涂层测厚仪误差比较大，需要用高精度的涂层测厚仪测量氧化层，比如中科朴道的PD-CT2涂层测厚仪就可以测量氧化层。
两者是只是根据材料有细微区别，不过现在使用者很多不了解，也相互称呼。
涂层膜厚测试仪原理
涂层膜厚测试仪被广泛应用于测量从0.1到50微米各种薄膜材料的厚度。无论单层或多层薄膜，简单的球磨测试都能快速准确的测定每一层薄膜的厚度。典型的试样包括CVD、 PVD、等离子喷射涂层、阳极氧化薄膜、离子溅射薄膜、化学和电镀沉积镀膜、高分子薄膜、涂料、釉漆等等。
原理：一个半径准确已知的磨球由自身重力作用于镀膜试样表面并进行自转。在测试过程中，磨球与试样的相对位置以及施加于试样的压力保持恒定。磨球与试样间的相对运动以及金刚石颗粒研磨液的共同作用将试样表面磨损出一球冠形凹坑。 随后的金相显微镜观测可以获得磨损坑内涂层和基体部分投影面积的几何参数。在得知了X和Y的长度后，涂层的厚度D可以通过简单的几何公式计算得出。
